薄膜介質損耗儀介電常數測試儀

Name: 薄膜介質損耗儀 介電常數測試儀HD-JD1
Brand: 霍爾德?電子
Price: 面議 CNY
Availability: InStock

薄膜介質損耗儀介電常數測試儀用于科研機關、學校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應用研究。介質損耗和介電常數是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質的一項重要的物理性質。通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據。

產品品牌：霍爾德?電子

價格：我要詢價

廠商性質：生產廠家

產品時間： 2025-06-20

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產品概述

介質損耗和介電常數是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質的一項重要的物理性質。通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據。

薄膜介質損耗儀介電常數測試儀是一種用于精確測量材料介電性能的專業儀器，主要應用于以下領域：

1.科研機構——用于新型電介質材料的性能分析與理論研究，為材料科學領域的創新提供實驗依據；

2.高等院校——作為教學與科研的重要設備，支撐材料學、物理學、電子工程等學科的實驗研究；

3.工業企業——用于無機非金屬材料（如陶瓷、玻璃、高分子復合材料等）的質量控制與性能優化，指導產品開發與工藝改進。

該儀器在電子元器件、絕緣材料、新能源器件等領域具有廣泛的應用價值，為新型功能材料的研發與產業化提供關鍵測試手段。

薄膜介質損耗儀介電常數測試儀

薄膜介質損耗儀介電常數測試儀參考標準

u GB/T 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法；

u GB/T 1693-2007 硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切值的測定方法；

u ASTM-D150-介電常數測試方法；

u GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數的測試方法。

技術參數

1	信號源	DDS數字合成 10KHZ-70MHz
2	采樣精度	11BIT
3	測量范圍	1-1000自動/手動量程
4	分辨率	0.1
5	測量工作誤差	<5%
6	電感測量范圍	分辨率0.1nH
7	電感測量誤差	<3%
8	調諧電容	主電容30-540pF
9	電容直接測量范圍	1pF～2.5uF
10	調諧電容誤差	±1 pF或<1% 0.1pF
11	諧振點搜索	自動掃描
12	合格預置范圍	5-1000聲光提示
13	LCD顯示參數	F，L，C，Q，Lt，Ct等
14	介質損耗系數精度	萬分之一
15	介電常數精度	千分之一
16	材料測試厚度	0.1mm-10mm
17	技術	儀器自動扣除殘余電感和測試引線電感。大幅提高測量精度。大電容值直接測量顯示。數顯微測量裝置，直接讀值。